在我上一篇博文的文章中，我讨论了参加散漫考试所带来的问题，以及我们如何在学生参加MAP Growth考试时发现这种情况的发生。今天，我想分享NWEA正在做什么来解决这个问题——现在和未来。

正如我上次提到的，在绝大多数情况下，学生在MAP成长测试活动中表现出良好的努力。然而，有时，学生在参加MAP成长考试时变得心不在焉，而心不在焉通常只发生在部分测试活动中。这种脱离会对RIT分数产生负面扭曲，脱离越多，扭曲的程度就越大。

我们可以通过检查学生回答个别题目所花费的时间来发现心不在焉的考试。不专心的学生在参加像MAP成长这样的多项选择评估时，会表现出一种称为“成长”的特征行为快速猜测——快速回答问题的速度比他们有时间完全阅读和理解挑战的速度还要快。这意味着快速猜测行为是考试心不在焉的表现。使用响应时间，我们可以评估学生在MAP成长测试事件中给出的每个响应，并将其分类为快速猜测或解决行为(即，努力响应)。通过在学生的所有项目回答中聚合这些分类，我们可以评估他们整体的测试投入。

通过这种方法，NWEA在MAP Growth中创建了新的功能，我们相信这将对我们的合作伙伴非常有帮助。因为快速猜测可以被检测到实时地在测试事件期间，有两个关键特性成为可能。

从很多方面来说，第一种方法是最令人兴奋的，因为它实际上可以减少不投入的考试。在MAP成长测试活动中，如果一个学生表现出特定的脱离模式(目前定义为连续三次快速猜测)，测试监考人的计算机控制台将显示一个通知，指示哪个学生已经脱离。当监考老师收到这样的通知时，他们被要求悄悄地接近学生，鼓励他们重新参与，并尽最大努力参加MAP成长测试活动。这种类型的监考干预应该消除了许多随后会发生的脱离，如果监考没有被通知。(你可以找到更详细的监考说明在我们的社区里.）

第二个特点是MAP Growth选择给学生的项目的方式发生了变化。MAP成长是一个计算机化的自适应测试。它根据学生在测试之前给出的项目上的表现，调整项目的难度以匹配学生的成就水平。然而，快速猜测会混淆选项的选择，因为快速猜测的正确率和随机猜测的正确率一样高，而且会使学生的成绩看起来比实际水平低。物品选择方法现在得到了改进，快速猜测不再影响物品选择，这保留了MAP增长的效率和RIT分数的准确性。

这些新功能代表了NWEA在成功应对不参与考试所带来的有效性威胁方面所做的最大努力，因为我们努力向合作伙伴提供最有效的信息。然而，我们的合作伙伴在追求有效分数方面也发挥着关键作用。他们选择MAP成长测试事件发生的时间和地点，如何为学生设置测试框架，以及如何进行监督。所有这些因素都会影响学生的参与度(从而影响分数的有效性)，我们提供指导和其他资源，旨在帮助合作伙伴尽其所能，最大限度地提高学生的考试参与度。

推动我们产品创新的NWEA研究并未就此结束——请继续关注基于我们在学生参与领域的工作的MAP增长的未来更新。你可以阅读更多关于NWEA研究的内容EdWeek片,新工具在学生放弃考试时提醒老师．